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平面度测量介绍

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平面度测量介绍

发布日期:2019-08-03 作者:admin 点击:

        长度计量技术中对平面度误差的测量。平面是由直线组成的,因此直线度测量中直尺法、光学准直法、光学自准直法、重力法等也适用于测量平面度误差。测量平面度时,先测出若干截面的直线度,再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。光波干涉法常利用平晶进行,图为测量所得的不同干涉条纹。图中a的干涉条纹是直的,而且间距相等,只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的,但与光学平晶不平行,而且在圆周部分有微小的偏差。图中b的干涉条纹弯曲而且间隔不相等,表明被检验表面是球形的,平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍,表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c的干涉条纹呈圆形,同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半,即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d的干涉条纹成椭圆形排列,说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线,因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面,测量面积也较小,但测量精确度很高。


        深圳市森川科技有限公司是一家集研发、制造、销售、服务为一体的国内领先的自动化检测设备制造商。目前公司主要专注于手机部品、平板电脑部品、汽车部品等精密零组件相关的平面度检测、尺寸检测、外观分选等检测包装设备。公司成立于2011年,一直以来注重产品的研发,秉承‘只有创新才能让让公司稳健成长,只有为客户提供更好的产品和服务才能取得共赢’的理念来为社会服务。




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